Estimation analytique des taux de défaillance dans les SRAM sous seuil en régime de rétention de donnéesVan Brandt, Léopold;Flandre, Denis(2023) FETCH 2023 — Location: Lavey-les-Bains (Vaud, Suisse) (1.February.2023)
Filesslides_FETCH_January_February_2023_v2.pdf Open Access Adobe PDF1.04 MBDownloadDetailsAuthorsVan Brandt, LéopoldUCLouvainAuthorFlandre, DenisUCLouvainAuthorAffiliationsUCLouvainSST/ICTM/ELEN - Pôle en ingénierie électriqueShow moreCitations APA Chicago FWB Van Brandt, L., & Flandre, D. (2023). Estimation analytique des taux de défaillance dans les SRAM sous seuil en régime de rétention de données. FETCH 2023, Lavey-les-Bains (Vaud, Suisse). https://hdl.handle.net/2078.5/254882