S'attaquer aux problématiques de test et de fiabilité des accélérateurs IA analogiques et mixtes

Andraud, Martin

doi:10.70675/f41e9a8cz2d20z4717z87f5za09d6606a6d9

S'attaquer aux problématiques de test et de fiabilité des accélérateurs IA analogiques et mixtes

Andraud, Martin

(2026) FETCH 2026

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Andraud, MartinUCLouvain
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UCLouvainSST/ICTM/ELEN - Pôle en ingénierie électrique

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Andraud, M. (2026, February 4). S’attaquer aux problématiques de test et de fiabilité des accélérateurs IA analogiques et mixtes. FETCH 2026. https://doi.org/10.70675/f41e9a8cz2d20z4717z87f5za09d6606a6d9