Tests à données aléatoires par mutations pour les systèmes de programmation par contraintes

Vanroose, Wout;Bleukx, Ignace;Devriendt, Jo;Tsouros, Dimos;Guns, Tias;et.al.
(2025) Vingtième journées Francophones de Programmation par Contraintes (JFPC25) — Location: Dijon, France (30.June.2025)

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Authors
  • Vanroose, WoutKU Leuven
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  • Bleukx, IgnaceKU Leuven
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  • Devriendt, JoKU Leuven
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  • Tsouros, DimosKU Leuven
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  • Guns, TiasKU Leuven
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Citations

Vanroose, W., Bleukx, I., Devriendt, J., Tsouros, D., Verhaeghe, H., & Guns, T. (2025). Tests à données aléatoires par mutations pour les systèmes de programmation par contraintes. Vingtième journées Francophones de Programmation par Contraintes (JFPC25), Dijon, France. https://hdl.handle.net/2078.5/255525