Mesure de temps de vie des niveaux nucléaires par la méthode de la distance de recul appliquée aux noyaux 160Er, 170W et 154Er

Michel, Christian
(1979)

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  • Michel, ChristianUCLouvain
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Vervier, Jean
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Michel, C. (1979). Mesure de temps de vie des niveaux nucléaires par la méthode de la distance de recul appliquée aux noyaux 160Er, 170W et 154Er. https://hdl.handle.net/2078.5/124056