Mesure de temps de vie des niveaux nucléaires par la méthode de la distance de recul appliquée aux noyaux 160Er, 170W et 154ErMichel, Christian(1979)
FilesMichel.pdf Restricted Access Adobe PDF12.1 MBRequest a copyDetailsAuthorsMichel, ChristianUCLouvainauthorSupervisorsVervier, JeanAffiliationsUCLouvainSC/PHYS - Département de physiqueShow moreCitations APA Chicago FWB Michel, C. (1979). Mesure de temps de vie des niveaux nucléaires par la méthode de la distance de recul appliquée aux noyaux 160Er, 170W et 154Er. https://hdl.handle.net/2078.5/124056