Tomographie optique basée sur la déflectométrie de Schlieren à décalage de phaseFoumouo, Emmanuel;Joannes, Luc;Antoine, Philippe(2010) Journées de l’imagerie non conventionnelle (JIONC) — Location: Paris, France
FilesNo attached file found for this publication.DetailsAuthorsFoumouo, EmmanuelUCLouvainAuthorJoannes, LucUCLouvainAuthorAntoine, PhilippeUCLouvainAuthorAffiliationsUCLouvainSC/PHYS - Département de physiqueShow moreCitations APA Chicago FWB Foumouo, E., Joannes, L., & Antoine, P. (2010). Tomographie optique basée sur la déflectométrie de Schlieren à décalage de phase. Journées de l’imagerie non conventionnelle (JIONC), Paris, France. https://hdl.handle.net/2078.5/225298