Dirani, A., Lipnik, P., Sarrazin, M., DELLIEU, L., Deparis, O., Jonas, A., Glinel, K., & Nysten, B. (2015). Certification par microscopie de force atomique de revêtements auto-nettoyants et anti-reflets. 18ème Forum des microscopies à sonde locale, Rouilly-Sacey, France. https://hdl.handle.net/2078.5/175331