Déflectométrie par schlieren à décalage de phase avec masques multi-échelles
(2009) Colloque “Contrôles et Mesures Optiques pour l’Industrie” — Location: Reims, France
Files
No attached file found for this publication.
Details
- Authors
- Affiliations
Citations
Antoine, P. (2009). Déflectométrie par schlieren à décalage de phase avec masques multi-échelles. Colloque “Contrôles et Mesures Optiques pour l’Industrie”, Reims, France. https://hdl.handle.net/2078.5/225555