Application des spectrométries de diffusion d'ions lents (ISS) et de masse d'ions secondaires (SIMS) à l'analyse de surface des polymèresDe Puydt, Yves(1991)
FilesDePuydt.pdf Restricted Access Adobe PDF6.41 MBNo accessDetailsAuthorsDe Puydt, YvesUCLouvainauthorSupervisorsBertrand, PatrickAffiliationsUCLouvainFSA/MAPR - Département des sciences des matériaux et des procédésShow moreCitations APA Chicago FWB De Puydt, Y. (1991). Application des spectrométries de diffusion d’ions lents (ISS) et de masse d’ions secondaires (SIMS) à l’analyse de surface des polymères. https://hdl.handle.net/2078.5/53505