Application des spectrométries de diffusion d'ions lents (ISS) et de masse d'ions secondaires (SIMS) à l'analyse de surface des polymères

De Puydt, Yves
(1991)

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  • De Puydt, YvesUCLouvain
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Bertrand, Patrick
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De Puydt, Y. (1991). Application des spectrométries de diffusion d’ions lents (ISS) et de masse d’ions secondaires (SIMS) à l’analyse de surface des polymères. https://hdl.handle.net/2078.5/53505